快速沖擊冷熱試驗箱/產(chǎn)冷熱沖擊箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從的IC到重機(jī)械的組件，不需要它,目此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測試工具。

快速沖擊冷熱試驗箱/產(chǎn)冷熱沖擊箱 滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 4部分：低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 5部分：溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

溫度沖擊方法:垂直兩箱法 / 靜止三箱法。

常規(guī)型號和技術(shù)參數(shù):

沖擊箱常規(guī)型號:3AP-CJ-50

內(nèi)箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440mm

沖擊箱常規(guī)型號二:3AP-CJ-80

內(nèi)箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1700mm*1800mm*1440mm

沖擊箱常規(guī)型號三:3AP-CJ-100

內(nèi)箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1800mm*1440mm

沖擊箱常規(guī)型號四:3AP-CJ-150

內(nèi)箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1900mm*1540mm

沖擊箱常規(guī)型號五:3AP-CJ-250

內(nèi)箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm

外箱尺寸W×H×D:1900mm*2000mm*1640mm

備注：更多尺寸及容積可根據(jù)led產(chǎn)品的大小、長短做設(shè)計，如需非標(biāo)定制業(yè)務(wù)部門咨詢。